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                熱流儀

                簡要描述:熱流儀適用于各類半導體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊(如收發器 transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等)、電子行業等進行IC 特性分析、高低溫循環測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗。

                • 產品型號:QS-710
                • 廠商性質:生產廠家
                • 更新時間:2023-12-06
                • 訪  問  量:3032
                詳情介紹

                熱流儀工作原理
                1,試驗機輸出氣流罩將被測試品罩住,形成一個較密閉空間的測試腔,試驗機輸出的高溫或低溫氣流,使被測試品表面溫度發生劇烈變化,從而完成相應的高低溫沖擊試驗;
                2,可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件,將其隔離出來單獨進行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件,與傳統冷熱沖擊試驗箱相比,溫變變化沖擊速率更快;

                熱流儀滿足試驗標準

                1.GB/T 2423.1-2008     試驗A:低溫試驗方法;

                2.GB/T 2423.2-2008     試驗B:高溫試驗方法;

                3.GB/T2423.22-2012     試驗N: 溫度變化試驗方法

                4. GJB/150.3-2009       高溫試驗

                5. GJB/150.4-2009       低溫試驗          

                6. GJB/150.5-2009       溫度沖擊試驗

                熱流儀控制系統
                15寸超大人機介面
                支持USB、LAN,可實現電腦手機遠程操控
                二種檢測模式:AIR NODE 和DUT MODE
                運行模式
                1)手操
                   手動切換。
                   自動循環。
                2)程序
                   手動切換。
                   自動循環。



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